标题：机组电池早期容量损失两种解释

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机组电池早期容量损失两种解释

机组电池（机组蓄电池）早期容量损失(PCL效 应）。针对这种效应，人们提出了两种解释：

1、PCLl效应，与板栅ICL I PAM界面发生的反应有关。在板栅腐蚀期间， 形成腐蚀层， 其成分为PbO、 PbOn (1 < n < 2) 和Pb02 。在循环期间，在Pb、Pb-Ca或Pb－低Sb板栅上有可能快速形成相当厚的PbO次级层，这样形成 了一个高阻抗的界面。如果板栅合金中含有大量Sb或Sn添加剂，Sb或Sn离子加快了PbO转化为化合价更高并且电导率更高的铅氧化物的反应过程， 这样可减小PbO层厚度， 因而降低了腐蚀层界面电阻。

2、 PCI2效应，与活性物质自身变化有关。该效应缘于PAM颗粒间的电阻。PCI2比PCLl对 机组电池（机组蓄电池）循环寿命的影响小。

人们认为这两种失效机理与某种使用条件和合金成分有关。 机组电池（机组蓄电池）向Pb-Ca合金中添加一定量的Sn,可以消除PCL 效应。Pb-Ca -Sn合金用于铸造负板栅，在工业生产中占主导地位，几乎适用于所有类型的铅酸蓄电池。然而正极板采用低梯板栅，用于生产深循环电池， 或者采用含有大量Sn的铅－钙板栅，用于生产循环使用的 机组电池（机组蓄电池）。